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Laboratorio di Tecnologie Microelettroniche

DescrizioneDescrizione

Ricerche su processi tecnologici per la realizzazione di sensori e attuatori utilizzando tecnologie a film sottile


ResponsabileResponsabile

NomeE-mailStruttura
Giampiero De Cesare giampiero.decesare@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE, ELETTRONICA E TELECOMUNICAZIONI

Dipartimento o centro ospitanteDipartimento o centro ospitante
DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE, ELETTRONICA E TELECOMUNICAZIONI
AttivitàAttività
  • Didattica 5 %
  • Ricerca 95 %
  • Servizio 0 %
ERC scientific sectorERC scientific sector
PE7PE8
KeywordsKeywords
electrodepositiondeep reactive ion etchingRF Sputteringphotolithographya-SiOx, PECVD, Passivation, Metastability, Thermal annealingEvaporation, lattice model, Blume-Capel model
KETKET
Micro/nano electronics & photonics
Personale docente e di ricercaPersonale docente e di ricerca

NomeE-mailStruttura
Rita Asquini rita.asquini@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE, ELETTRONICA E TELECOMUNICAZIONI
Marco Balucani marco.balucani@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE, ELETTRONICA E TELECOMUNICAZIONI
Alessio Buzzin alessio.buzzin@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE, ELETTRONICA E TELECOMUNICAZIONI
Domenico Caputo domenico.caputo@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE, ELETTRONICA E TELECOMUNICAZIONI
Antonio D'Alessandro Antonio.Dalessandro@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE, ELETTRONICA E TELECOMUNICAZIONI
Fernanda Irrera fernanda.irrera@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE, ELETTRONICA E TELECOMUNICAZIONI
Nicola Lovecchio nicola.lovecchio@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE, ELETTRONICA E TELECOMUNICAZIONI
Fabrizio Palma fabrizio.palma@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE, ELETTRONICA E TELECOMUNICAZIONI

Responsabile tecnico TABResponsabile tecnico TAB

NomeE-mailStruttura
Rocco Crescenzi rocco.crescenzi@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE, ELETTRONICA E TELECOMUNICAZIONI

Personale tecnico TABPersonale tecnico TAB

NomeE-mailStruttura
Luca Balestreri luca.balestreri@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE, ELETTRONICA E TELECOMUNICAZIONI
Luca Sipone luca.sipone@uniroma1.it DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA DELL'INFORMAZIONE, ELETTRONICA E TELECOMUNICAZIONI

Strumenti e attrezzatureStrumenti e attrezzature

NomeDescrizioneServizi offerti
08015 - BomboleOssigeno
08016 - BomboleCF4
08017 - BomboleAr
08018 - Frigoriferi, congelatori e celle frigo Frigorifero JOINTLAB
08019 - Apparecchiature in pressione (compressori, bombole, ecc)Linea Aria Compressa prodotta da compressore "oil free" a 10 bar accoppiato a sistema di deumidificazione/essicazione dell'aria compressa.
08021 - Apparecchiature in pressione (compressori, bombole, ecc)Linea Azoto alimentato da generatore di azoto con produzione del gas a 9 bar.
Reactive Ion etchingSistema di attacco chimico-fisico al plasma. Sistema di miscelazione dei gas reattivi. N.2 camere di processo. Impianto di raffreddamento per il supporto del campione.
SputteringSistema di deposizione al plasma con gas argon. N. 3 target materiali per deposizione. Predisposizione per il raffreddamento del supporto del campione. Il sistema è dotato di un sistema di generazione di ultra vuoto.
Generatore RF e sistema autoregolante per il plasmaImpianto di generazione del segnale RF (600W max) per la generazione del plasma per il sistema RIE ed per il sistema Sputtering
ChillerSistema di raffreddamento del liquido refrigerante usato per gli impianti : RIE, SPUTTER, GENERATORE RF, EVAPORATORE TERMICO
Evaporatore Termico BalzerEvaporatore termico per la deposizione in fase vapore di film sottili. Il sistema è dotato di un sistema di generazione di ultra vuoto (sistema bistadio composto da pompa da vuoto rotativa e pompa da vuoto turbomolecolare).
N.2 linee di medio vuoto con attacchi dislocati nei vari ambienti del laboratorio

UbicazioneUbicazione

Nome stanzaEdificioPiano
LTE RM032 P04
LTE RM032 P02
LTE RM032 P04

Altre informazioniAltre informazioni

Realizzazione e caratterizzazione di dispositivi a film sottili per applicazioni di elettronica a larga area e sensoristica. Esso si articola su diversi locali che ospitano la Strumentazione: Sistema PECVD in UHV per la deposizione di silicio amorfo e silicio carbonio amorfo. Laboratorio depolverizzato con: sistemi di deposizione di film sottili per evaporazione e per sputtering. Sistema RIE; una camera gialla per fotolitografia con fotoplotter e allineatore di maschere. Banchi per misure ottiche (efficienza quantica, assorbimento) ed elettriche (C-V f T, I-V, transienti). Tool di simulazione: ORCAD, COMSOL Multiphysics, CAM 350, AUTOCAD, DIFFIN.